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　　在實際生產(chǎn)中，工件的材料厚度、形狀、表面粗糙度等存在差異，這些差異會對實際測量結(jié)果造成影響。每一種儀器都有一個基體金屬的臨界厚度，大于這個厚度，測量就不受基體金屬厚度的影響，如果試件材料厚度小于儀器所要求的臨界厚度，檢測結(jié)果就會與實際厚度有差別。

　　涂層測厚儀則可以無損地測量磁性金屬基體（如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等）上非磁性涂層的厚度（如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆等） 及非磁性金屬基體（如銅、鋁、鋅、錫等）上非導(dǎo)電覆層的厚度（如：琺瑯、橡膠、油漆、塑料等）。采用了磁性測厚法、可無損傷地測量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度（如鋼、鐵、非奧氏體不銹鋼基體上的鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆鍍層）。

　　基本工作原理是：當(dāng)測頭與覆蓋層接觸時，測頭和磁性金屬基體構(gòu)成一閉合磁路，由于非磁性覆蓋層的存在，使磁路磁阻變化，通過測量其變化可計算覆蓋層的厚度。具有測量誤差小、可靠性高、穩(wěn)定性好、操作簡便等特點(diǎn)，是控制和保證產(chǎn)品質(zhì)量常用的檢測儀器，廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測領(lǐng)域。

　　涂層測厚儀基體：
　　1.對于本儀器標(biāo)準(zhǔn)基體金屬的磁性和表面粗糙度，應(yīng)當(dāng)與待測試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。為了證實標(biāo)準(zhǔn)片的適用性，可用標(biāo)準(zhǔn)片的基體與待測試件基體上所測得的讀數(shù)進(jìn)行比較。
　　2.如果待測試件的基體金屬厚度沒有超過參數(shù)表中所規(guī)定的臨界厚度，可采用下面兩種方法進(jìn)行校準(zhǔn)：
　　1）在與待測試件的基體金屬厚度相同的金屬標(biāo)準(zhǔn)片上校準(zhǔn)；
　　2）用一足夠厚度的，電學(xué)或磁學(xué)性質(zhì)相似的金屬襯墊標(biāo)準(zhǔn)片或試件，但必須使基體金屬與襯墊金屬之間無間隙。對兩面有覆蓋層的試件，不能采用襯墊法。
　　3.如果待測覆蓋層的曲率已達(dá)到不能在平面上校準(zhǔn)，則有覆蓋層的標(biāo)準(zhǔn)片的曲率或置于校準(zhǔn)箔下的基體金屬的曲率，應(yīng)與試樣的曲率相同。